計(jì)量專用變頻介質(zhì)損耗測試儀百科應(yīng)用一、概述

介損測量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測量是衡量其絕緣性能的*基本方法。LYJS9000F變頻介質(zhì)損耗測試儀突破了傳統(tǒng)的電橋測量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡便；電源采用大功率開關(guān)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dòng)加壓，可提供*高10千伏的電壓；自動(dòng)濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場測試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

計(jì)量專用變頻介質(zhì)損耗測試儀百科應(yīng)用二、**措施

1、使用本儀器前一定要認(rèn)真閱讀本手冊。

2、儀器的操作者應(yīng)具備一般電氣設(shè)備或儀器的使用常識。

3、本儀器戶內(nèi)外均可使用，但應(yīng)避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽光直射等場所使用。

儀表應(yīng)避免劇烈振動(dòng)。

4、對儀器的維修、護(hù)理和調(diào)整應(yīng)由專業(yè)人員進(jìn)行。

5、在任何接線之前必須用接地電纜把儀器接地端子與大地可靠連接起來。

6、由于測試設(shè)備產(chǎn)生高電壓，所以測試人員必須完全嚴(yán)格遵守**操作規(guī)程，防止他人接觸高壓部件和電路。直接從事測試的人員必須完全了解高壓測試線路，及儀器操作要點(diǎn)。非從事測試人員必須遠(yuǎn)離高壓測試區(qū)，測試區(qū)必須用柵欄或繩索、警視牌等清楚表示出來。

7、儀器的調(diào)整維修和維護(hù)，必須在不加電情況下進(jìn)行，如果必須加電，則操作者必須非常熟悉本儀器高壓危險(xiǎn)部件。

8、保險(xiǎn)管損壞時(shí)，必須確保更換同樣的保險(xiǎn)，禁止更換不同型號保險(xiǎn)或?qū)⒈ｋU(xiǎn)直接短路使用。

儀器出現(xiàn)故障時(shí)，關(guān)閉電源開關(guān)，等待一分鐘之后再檢查。

計(jì)量專用變頻介質(zhì)損耗測試儀百科應(yīng)用三、可測試參數(shù)

1、儀器可測量下列參數(shù)并數(shù)字顯示：

2、被測試品的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

3、被測試品的介質(zhì)損耗值tgδ，以%顯示。

計(jì)量專用變頻介質(zhì)損耗測試儀百科應(yīng)用四、性能特點(diǎn)

1、儀器采用復(fù)數(shù)電流法，測量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測量。

2、儀器采用了變頻技術(shù)來消除現(xiàn)場50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測得可靠的數(shù)據(jù)。

3、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。

4、儀器操作簡便，測量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量方式，數(shù)據(jù)的測量就可在微處理 器控制下自動(dòng)完成。

5、一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源，便于現(xiàn)場測試，減少現(xiàn)場接線。

6、儀器測量準(zhǔn)確度高，可滿足油介損測量要求，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯，和專用測試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測量。

7、設(shè)CVT測試功能，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測試，無需外置附件，只需一次測量，C1,C2的電容和介損全部測出。

8、反接線測試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。

9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進(jìn)行不拆線10kV 反接線介損測量

10、具有測量高電壓介損功能，能夠使用高壓變壓器或串聯(lián)諧振進(jìn)行超過10kV電壓的介損試驗(yàn)。

12、接地保護(hù)功能，當(dāng)儀器不接地線或接地不佳時(shí)，儀器不進(jìn)入正常程序，不輸出高壓。過流保護(hù)功能，在試品短路或擊穿時(shí)儀器不受損壞。

13、觸電保護(hù)功能，當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候，儀器會立即切斷高壓，保障試驗(yàn)人員的**.

計(jì)量專用變頻介質(zhì)損耗測試儀百科應(yīng)用五、技術(shù)指標(biāo)

1、準(zhǔn)確度：Cx:±（讀數(shù)×1%+1pF）

          tgδ:±（讀數(shù)×1%+0.00040）

2、抗干擾指標(biāo)：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

3、電容量范圍：

內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV   60pF～30μF/0.5kV

4、分辨率：*高0.001pF，4位有效數(shù)字

5、tgδ范圍：不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識別。

6、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A

7、內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

8、*大輸出電流：200mA

9、升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

10、試驗(yàn)頻率：

45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻

11、頻率精度：±0.01Hz

12、外施高壓：

正接線時(shí)*大試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時(shí)*大試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

13、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

14、CVT變比測量：

變比測量精度：±讀數(shù)×1%  ；變比測量范圍：10～99999

15、相位測量精度：±0.1°；相位測量范圍：0～359.9°

16、測量時(shí)間：約40s，與測量方式有關(guān)

17、輸入電源：180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電

18、計(jì)算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口

19、打印機(jī)：煒煌A7熱敏微型打印機(jī)

20、環(huán)境溫度：    -10℃～50℃

21、相對濕度：    <90%

22、外形尺寸：460×360×350mm

23、儀器重量：28kg

六、測量方式及原理

按被測試品是否接地分兩種測量方式，即正接線測量方式和反接線測量方式。兩種測量方式的原理如圖一所示：

在高壓電源的10kV側(cè)，高壓分兩路，一路給機(jī)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容CN，此電容介損非常小，可以認(rèn)為介損為零，即為純?nèi)菪噪娏?，此電?/span>ICN 可做為容性電流基準(zhǔn)。在Cx試品一側(cè)，試品電流Icx通過采樣電阻R采入機(jī)內(nèi)，此Icx可分解成水平分量和垂直分量見圖二所示，通過計(jì)算水平分量與垂直分量的比值即可得到tgδ值。

在圖一（a）中Cx為非接地試品，試品電流Icx從試品末端進(jìn)入采樣電阻R，得到全電流值，在圖一（b）中Cx為接地試品，機(jī)內(nèi)Cx端直接接地，電流Icx從試品高壓端到機(jī)內(nèi)采樣電阻取得全電流值。

七、常見設(shè)備的接線方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀器的測量引線高壓端（帶危險(xiǎn)電壓） 。

CX ——  正接線時(shí)試品電流輸入端。

——  儀器的接地端，使用時(shí)與大地可靠相接

2.參考接線

2.1正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓（常規(guī)正接線）：

2.2反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓（常規(guī)反接線）

2.3正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓：

2.4反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓：

2.5正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.6反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.7正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓（高電壓介損）：

2.8反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激法可按下圖接線。如果C1是單節(jié)電容，母線不能接地；如果C1是多節(jié)電容，母線可接地，C11和C12可用常規(guī)正反接線測量，C13和C2用自激法測量。

CVT自激法測量中，儀器先測量C1，然后自動(dòng)倒線測量C2，并自動(dòng)校準(zhǔn)分壓影響。

應(yīng)注意，高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起誤差，可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。強(qiáng)烈建議使用高壓插座使用的高壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地。CVT下端接地，低壓線紅黑夾子接二次繞組，注意:如果測試角度接近180度，應(yīng)將紅黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標(biāo)在 電壓：10kV上面時(shí)候，按“確認(rèn)”鍵在儀器屏幕的左下角會出現(xiàn) 圖標(biāo)，代表測試結(jié)束自動(dòng)打印。如果再按確認(rèn)鍵，圖標(biāo)消失，代表測試結(jié)束必須手動(dòng)才能打印。

3.2光標(biāo)在 反接 上面時(shí)候，在反接線，內(nèi)Cn，內(nèi)Un，情況下，按確認(rèn)鍵在儀器屏幕右下角會出現(xiàn)圖標(biāo)，代表反接線低壓屏蔽測試。如果再按確認(rèn)鍵，圖標(biāo)消失，代表取消反接線低壓屏蔽。

反接線低壓屏蔽功能，一次接線可同時(shí)測出C1和C2的電容量和介損在反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)高壓方式，光標(biāo)移到“反接”處，按“確認(rèn)”右下角顯示“M”。

打開反接線低壓屏蔽，可在上端電容C1不拆母線的情況下，對其進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測量。如下圖所示：母線掛地線，C1上端不拆線，C1下端接高壓線芯線，C2末端接Cx芯線。儀器采用反接線/10kV/M測量方式，可同時(shí)測出C11和下端屏蔽部分的電容量和介損值。

3.3光標(biāo)在 正接 上面時(shí)候，按確認(rèn)鍵則測試打印機(jī)，換紙。

3.4光標(biāo)在 啟動(dòng) 上面時(shí)候，按減小鍵則代表取出存儲的數(shù)據(jù)。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則代表存儲測試的數(shù)據(jù)

八、功能簡介

儀器面板見圖九所示：

打印機(jī)——打印測量數(shù)據(jù)。

顯示器——128×64點(diǎn)陣液晶顯示器，顯示菜單和各種提示信息及測量結(jié)果。

 鍵——選擇菜單項(xiàng)，被選中項(xiàng)反白字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內(nèi)容，采用循環(huán)滾動(dòng)方式。

▼ 鍵——修改菜單內(nèi)容，采用循環(huán)滾動(dòng)方式。

確認(rèn)鍵——在“測試”選項(xiàng)上按此鍵進(jìn)入測試狀態(tài)。

電源開關(guān)——整機(jī)電源的開啟和關(guān)閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險(xiǎn)倉。

9．自激法電流輸出端——測量CVT的專用端子。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插座——是試品信號的測量輸入端，正接線時(shí)由專用低壓電纜連接，此電纜單層屏蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接試品低端。反接線時(shí)此端空置。

12．CN插座——是外標(biāo)準(zhǔn)電容信號的測量輸入端，使用內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)此端空置。

13．HV插座——高壓引出端子，由高壓電纜連接，接試品高壓端。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來連接電腦，上傳數(shù)據(jù)。

九、操作步驟

1．測量前準(zhǔn)備：

1）用接地線一端接儀器的接地柱，另一端接可靠的大地，保證儀器外殼處在地電位上。

2）正接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的優(yōu)異引線上，黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中，另一端的紅色夾子夾試品的低端，黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。

3）反接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的優(yōu)異引線上，紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

2．打開電源開關(guān)，儀器進(jìn)行自檢，若自檢良好，液晶屏顯示中文主菜單如圖十所示。

3．菜單選擇：

按鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng)，并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖十一所示。

在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目，按▼ ▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更，并循環(huán)指示，流程見圖十二所示。

將菜單變更至與測試要求相對應(yīng)后即可按選擇鍵進(jìn)行下個(gè)項(xiàng)目的選擇。

4、頻率：光標(biāo)在頻率上，按↑↓鍵選擇定頻和變頻：

光標(biāo)在定頻上：按住“啟?！辨I1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huán)顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設(shè)置不能抗干擾，在試驗(yàn)室內(nèi)測量或校驗(yàn)時(shí)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測量，研究不同頻率下介損的變化時(shí)選用。

光標(biāo)在變頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huán)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dòng)變頻，適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

5、測試：當(dāng)光標(biāo)在 測試 項(xiàng)目上時(shí)，按確認(rèn)鍵大約3秒鐘開始測試。測試過程中顯示的畫面如圖十三（正接線，變頻）所示，當(dāng)下面的進(jìn)程到100%時(shí)候測試完畢，然后顯示測量結(jié)果見圖十四所示，此時(shí)光標(biāo)指示打印機(jī)圖標(biāo)，按確認(rèn)鍵打印報(bào)告。測量結(jié)果的意義如下：

tgδ：試品的損耗因數(shù)tgδ值

CX：測量的電容值

V：施加電壓值

I：試品流過的電流

F1,F2 : 試驗(yàn)頻率

打印結(jié)束后，關(guān)閉電源開關(guān)，測試完畢。

十、現(xiàn)場試驗(yàn)注意事項(xiàng)

如果使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸不佳

現(xiàn)場測量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線氧化層太厚，或風(fēng)吹線擺動(dòng)，易造成接觸不佳。

2、接地接觸不佳

接地不佳會引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

3、直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直接測量CVT的下節(jié)耦合電容會出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測量。

4、空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布，此法有爭議，可參照有關(guān)規(guī)程。

5、發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻50Hz模式工作。

6、測試線

由于長期使用，易造成測試線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸不佳，用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測試線；

測試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測量CVT時(shí)，非專用的高壓線應(yīng)吊起懸空，否則對地附加雜散電容和介損會引起測量誤差。

7、工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式（正、反和CVT），不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

8、試驗(yàn)方法影響

由于介損測量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時(shí)可首先檢查接線，然后檢查是否為儀器故障。

9、儀器故障

用萬用表測量一下測試線是否斷路，或芯線和屏蔽是否短路；輸入電源220V過高或過低；接地是否良好。

用正、反接線測一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒有問題；

拔下所有測試導(dǎo)線，進(jìn)行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。

啟動(dòng)CVT測量后測量低壓輸出，應(yīng)出現(xiàn)2～5V電壓，否則儀器有故障。

十一、 儀器檢定

1、用標(biāo)準(zhǔn)損耗器檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度，應(yīng)使用比對法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對標(biāo)準(zhǔn)。儀器應(yīng)選用“內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)”和“RC串聯(lián)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當(dāng)值。

3、抗干擾能力

設(shè)置一個(gè)回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dòng)后會使220V供電電路帶有測量頻率分量，如果該頻率分量又通過干擾電流進(jìn)入儀器，則無法檢驗(yàn)儀器的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾，因?yàn)檫@樣很容易產(chǎn)生近距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。

十二、變頻測量討論

1、變頻測量

干擾十分嚴(yán)重時(shí)，變頻測量能得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測量時(shí)，測量系統(tǒng)只允許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效抑制，原因在于測量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率，由下述簡單計(jì)算可以說明選頻測量的效果：

兩個(gè)頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是干擾，幅度為低頻的10倍：

Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)

在x=0/90/180/270°得到4個(gè)測量值

Y0=12.4517，Y1= -11.1017，Y2=12.2075，Y3= -13.5576，

計(jì)算A=Y1-Y3=2.4559，B=Y0-Y2=0.2442，則：

φ=tg-1(B/A)=5.678° V=  A2+B2/2=1.234

這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實(shí)際波形的測量點(diǎn)多達(dá)數(shù)萬，計(jì)算量很大，結(jié)果反映了波形的整體特征。

2、頻率和介損的關(guān)系

介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型：串聯(lián)模型tgδ=2πfRC，并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示，f對完全正比和完全反比兩種模型影響較大。但實(shí)際電容器是多種模型交織的混合模型，此時(shí)f的影響就小。

3、自動(dòng)變頻與50Hz等效

儀器采用自動(dòng)變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)（45Hz和55Hz）各測一個(gè)點(diǎn)，然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個(gè)元件電路的低頻諧振外，單個(gè)試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰，工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的。因此這種測量方法不會帶來明顯誤差。實(shí)際上，平均前的兩個(gè)介損值已十分接近，即使不平均也完全有參考價(jià)值。目前，變頻介損儀已成為介損測量的常規(guī)儀器，其優(yōu)異的抗干擾能力和準(zhǔn)確度已經(jīng)得到認(rèn)可。

教育部學(xué)校規(guī)劃建設(shè)發(fā)展中心主任陳鋒在論壇上表示，今天我們面對著新的科技的挑戰(zhàn)，從工業(yè)化時(shí)代向數(shù)字化、智能化時(shí)代偉大的轉(zhuǎn)變，因此教育面對著一個(gè)非常巨大的挑戰(zhàn)，所以在產(chǎn)教融合、科教融合的基礎(chǔ)上，我們一直在思考未來的大學(xué)，未來的職業(yè)院校應(yīng)該是怎么去辦。從去年開始，教育部學(xué)校規(guī)劃建設(shè)發(fā)展中心相繼在國內(nèi)開始實(shí)施智慧學(xué)習(xí)工場的實(shí)驗(yàn)，去探索一種新的高等教育和職業(yè)教育的發(fā)展形態(tài)。建行大學(xué)作為一個(gè)新型企業(yè)大學(xué)，聯(lián)合境內(nèi)外知名的高校，科技型的創(chuàng)造企業(yè)，共同發(fā)起這樣一個(gè)新金融人才產(chǎn)教融合的聯(lián)盟，將推動(dòng)讓產(chǎn)教融合的政策能夠更加落到實(shí)處，為我們國家培養(yǎng)更多的適應(yīng)科技挑戰(zhàn)的新金融的人才，希望建行這個(gè)平臺能夠?yàn)橥苿?dòng)我們高等教育和職業(yè)教育的改革，發(fā)揮它十分積極的作用。

中國科學(xué)院院士、復(fù)旦大學(xué)校長許寧生在演講中表示，金融是經(jīng)濟(jì)的血脈，是國家重要的核心競爭力，也是推動(dòng)新時(shí)代中國經(jīng)濟(jì)高質(zhì)量發(fā)展的堅(jiān)實(shí)保證。在國家推進(jìn)金融開放創(chuàng)造的實(shí)踐過程中，時(shí)代對新金融人才的需求比以往任何時(shí)候都更加迫切、也更加強(qiáng)烈。他強(qiáng)調(diào)，面對新金融發(fā)展的蓬勃浪潮，高校理應(yīng)主動(dòng)作為、乘勢而上，堅(jiān)持守正創(chuàng)造，力求在新金融人才培養(yǎng)上取得更大突破：一是更加注重基礎(chǔ)，突出全方位發(fā)展；二是更加注重多學(xué)科，突出交叉創(chuàng)造；三是更加注重實(shí)踐，突出產(chǎn)教融合。作為一所在金融人才培養(yǎng)方面有著優(yōu)良傳統(tǒng)和深厚底蘊(yùn)的高校，復(fù)旦大學(xué)愿與各方一道，著力培養(yǎng)出更多的高素質(zhì)新金融人才，為服務(wù)國家現(xiàn)代金融體系建設(shè)、服務(wù)上海國際金融中心建設(shè)作出更大貢獻(xiàn)！

比亞迪股份有限公司董事長兼總裁王傳福在演講中表示，民營企業(yè)一定要肩負(fù)時(shí)代使命，秉持家國情懷，發(fā)揮企業(yè)主體作用，不斷深化合作辦學(xué)模式，助力教育上等發(fā)展，堅(jiān)持“人才共育、成果共享”，努力將企業(yè)技術(shù)技能、工匠精神、先進(jìn)管理、創(chuàng)造文化等要素融入學(xué)校人才培養(yǎng)、科學(xué)研究、創(chuàng)造創(chuàng)業(yè)全過程，促進(jìn)人才需求側(cè)融入供給側(cè)，發(fā)揮企業(yè)開展實(shí)踐教育、對接市場需求、激活創(chuàng)造源頭的優(yōu)勢，提高新時(shí)代背景下的人才培養(yǎng)質(zhì)量。

2011年諾貝爾經(jīng)濟(jì)學(xué)獎(jiǎng)獲得者、紐約大學(xué)經(jīng)濟(jì)學(xué)系威廉·伯克利經(jīng)濟(jì)和商業(yè)講座教授THOMAS SARGENT，圍繞校企融合發(fā)表主題演講,闡述信息與預(yù)測社會、如何能加速創(chuàng)造進(jìn)程以及高校和企業(yè)的關(guān)系。他談到越來越多的學(xué)習(xí)發(fā)生在入職后,而“人力資本”往往在一段時(shí)間后才會幫助提升員工和企業(yè)的生產(chǎn)力。他發(fā)現(xiàn)，很多技術(shù)的發(fā)展都是在這些民營的企業(yè)當(dāng)中研發(fā)出來的。比如說機(jī)器學(xué)習(xí)，還有AI人工智能，包括一些硬件、軟件，新的算法，計(jì)算的法則和方法。企業(yè)其實(shí)類似于一個(gè)大學(xué)一樣的，它其實(shí)是一個(gè)關(guān)系網(wǎng)，包括大數(shù)據(jù)、人工智能、數(shù)學(xué)、物理、統(tǒng)計(jì)學(xué)、科學(xué)等等這些之間的關(guān)系。高校與企業(yè)在人才培養(yǎng)、技術(shù)進(jìn)步等領(lǐng)域的合作和交融日趨深入。

在科技與金融主題論壇上，云南省委常委、常務(wù)副省長宗國英，西南財(cái)經(jīng)大學(xué)校長卓志，帝國理工學(xué)院布勒旺·霍華德中心執(zhí)行主任、建行大學(xué)特聘學(xué)者FRANKLIN ALLEN，中國銀行業(yè)協(xié)會黨委書記、專職副會長潘光偉，國際信息系統(tǒng)審計(jì)協(xié)會全球副總裁STEVEN MOLE以及中國建設(shè)銀行黨委委員、副行長張立林圍繞 “無處不在的新金融服務(wù)”主題發(fā)表精彩演講，部分知名科技、互聯(lián)網(wǎng)、金融企業(yè)的業(yè)界代表就“聚焦新金融、科技連產(chǎn)教”展開圓桌對話。

研發(fā)與應(yīng)用主題論壇上，中國科學(xué)院院士，復(fù)旦大學(xué)副校長、特聘教授、博導(dǎo)，研究生院院長、大氣科學(xué)研究院院長、大氣與海洋科學(xué)系主任張人禾，杰出教育家、核物理學(xué)家、中國科學(xué)院院士、原復(fù)旦大學(xué)校長楊福家、國際杰出統(tǒng)計(jì)學(xué)家、復(fù)旦大學(xué)大數(shù)據(jù)學(xué)院教授、院長范劍青以及中國建設(shè)銀行黨委委員、副行長、建行大學(xué)常務(wù)副校長章更生圍繞如何讓科技加快促進(jìn)新動(dòng)能發(fā)展壯大，發(fā)表主旨演講。來自國內(nèi)外知名高校的專家學(xué)者及企業(yè)界代表圍繞論壇主題展開圓桌對話。

創(chuàng)造與創(chuàng)業(yè)主題論壇上，2011年諾貝爾經(jīng)濟(jì)學(xué)獎(jiǎng)獲得者、紐約大學(xué)經(jīng)濟(jì)學(xué)系威廉·伯克利經(jīng)濟(jì)和商業(yè)講座教授THOMAS SARGENT托馬斯·薩金特，華為戰(zhàn)略研究院**分析師肖偉春，香港科技大學(xué)工商管理學(xué)院副院長徐巖，大疆科技集團(tuán)上等總監(jiān)張曉楠，亞洲商學(xué)院創(chuàng)始院長CHARLES FINE以及中國建設(shè)銀行黨委委員、副行長、建行研究院院長黃毅圍繞“共建雙創(chuàng)機(jī)制 培育產(chǎn)教融合新力量”發(fā)表精彩演講，立足各自優(yōu)勢，為創(chuàng)造創(chuàng)業(yè)出謀劃策。特邀嘉賓通過主題演講、圓桌對話等多種形式，進(jìn)行深入探討、廣泛交流。